高溫四探針測(cè)試儀

*高溫度  1650°c

測(cè)量范圍 0.1mΩ-100MΩ

溫度精度  ±0.25°c

*快測(cè)量 6.4ms

更多功能 高溫四探針、退火

高溫I-V特性測(cè)試

高溫真空測(cè)量

高溫氣氛測(cè)量

高溫?zé)Y(jié)/退火

高溫四探針測(cè)量

消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

高溫四探針測(cè)試儀采用直排四探針法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能，參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的**度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

      搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合功能材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過程的**；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

      源測(cè)量?jī)x器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如，它具有更短的測(cè)試時(shí)間，通過減少GPIB的流量并簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過載、熱失控等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測(cè)量完整性*大化。如果回讀達(dá)到可編程容限的極限，那么該源就被鉗位在此極限，從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。

消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

華測(cè)系列阻抗分析儀是華測(cè)儀器電子事業(yè)部采用當(dāng)前***自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的*新高度。也徹底超越了國(guó)外同類儀器，在測(cè)量10Hz-50MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類儀器只能分析、*********；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。得益于***自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。 快達(dá)5ms的測(cè)試速度及高達(dá)50M的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能  更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽

華測(cè)近紅外高溫爐配合吉時(shí)利數(shù)字源表進(jìn)行四探針電阻測(cè)量，讓測(cè)試更加穩(wěn)定可靠，吉時(shí)利數(shù)字源表系列專用于要求緊密結(jié)合源和測(cè)量 的測(cè)試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號(hào)都提供精密電壓源和電 流源以及測(cè)量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流 電源也是真儀器級(jí)的6位半萬用表。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高和低噪聲。*終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測(cè)試儀。 在工作時(shí)，這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基礎(chǔ)測(cè)量精度（6位半分辨率）。 2線、4線電壓源和測(cè)量感測(cè)1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），通過GPIB通過/失效比較器用于快速提供高速感測(cè)線接觸檢查功能，在半導(dǎo)體、功能材料行業(yè)吉時(shí)利數(shù)字源表是適于特性析和生產(chǎn)測(cè)試等廣泛應(yīng)用的重要源表。

專用高頻測(cè)試線纜，更適合高頻測(cè)量

測(cè)試引線使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口，附帶BNC陽(yáng)頭連接板，用于連接高溫爐的測(cè)試夾具，同時(shí)測(cè)試線采用高頻測(cè)試專用測(cè)試線，設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測(cè)量。

儀器優(yōu)勢(shì)：

1、它可以勻速、階梯（升\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式。

2、采用***移相觸發(fā)技術(shù)，完全可實(shí)現(xiàn)控制精度波動(dòng)±0.25°c 以內(nèi)，溫控精度更高。

3、加熱速度更快、更快，同時(shí)它可以提供了材料的更多的測(cè)試環(huán)境。

更加優(yōu)異的加溫方式

目前國(guó)內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，主要原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫過程速度慢，效率低下。也無法實(shí)現(xiàn)溫度的高精度測(cè)量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測(cè)儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)高精度，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱及高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。 可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻 ，用石英管保護(hù)加熱試樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵眨呒兌葰怏w中加熱 。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，溫度斜率爐，階段加熱爐。

   它提高了加熱試驗(yàn)?zāi)芰Α?同電阻爐和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時(shí)間和保持時(shí)間及自然冷卻到室溫所需時(shí)間，再試驗(yàn)中也可改寫設(shè)定溫度值。從各方面講，都節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間并提高實(shí)驗(yàn)速度。

同高頻爐相比，不需特殊的安裝條件及對(duì)加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡(jiǎn)單，有冷卻系統(tǒng)**可靠。以提高試驗(yàn)人員的工作效率，實(shí)現(xiàn)***溫度控制操作！

高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。

1、高速加熱與冷卻方式

高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。

2、溫度高精度控制

近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以**控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。

3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻

加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體 靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

更強(qiáng)的擴(kuò)展能力，實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用

█  多功能真空加熱 爐，可實(shí)現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下電學(xué)測(cè)試

█  采用鉑金材料作為測(cè)量導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度

█  設(shè)備配置水冷裝置，降溫速度更快、效率更高

█  可實(shí)現(xiàn)高溫下四探針電阻譜等測(cè)量功能

█  進(jìn)口溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制，使測(cè)量溫度更精準(zhǔn)

█  近紅外加熱，樣品受熱更均勻，不存在感應(yīng)電流，達(dá)到精準(zhǔn)測(cè)量

█  10寸進(jìn)口觸摸屏設(shè)計(jì)，一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu)，更加穩(wěn)定、可靠

█  采用進(jìn)口高頻測(cè)試線，抗干擾能力更強(qiáng)，采集精度更高

█  99氧化鋁陶瓷絕緣，配和鉑金電極夾具

█  huace pro 強(qiáng)大的控制分析軟件與功能測(cè)試平臺(tái)系統(tǒng)相互兼容

設(shè)備測(cè)量參數(shù)

溫度范圍： RT-800 (*高1650)°C 控溫精度：±0.25°C     

升溫斜率：10°C/min（可設(shè)定）   測(cè)試范圍 :  0.1mΩ-100MΩ     

加熱方式：近紅外加熱     

冷卻方式：水冷     

輸入電壓：110~220V    

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm   電極材料：碳化鎢針

 夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷   測(cè)量方式：直接四探針

  測(cè)試功能：I-V、R-T等     

 數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口

 設(shè)備尺寸：600x500x350mm

動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍：電流：10pA to 10A

      電壓：1μV to 200V

四象限工作

0.012%的**度，5?的分辨率

可程控電流驅(qū)動(dòng)和電壓測(cè)量鉗位的 6位線電阻測(cè)量   在4?數(shù)位時(shí)通過GPIB達(dá)1700讀數(shù)/秒

可選式接觸檢查功能

更強(qiáng)大的操作軟件

測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作**性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。支持新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。

█ 多語(yǔ)介面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

█ 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無須等待；

█ 圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；

█ 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

█ 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

█ 試驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)表格式，一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告，可導(dǎo)出EXCEL、PDF格式報(bào)表

軟件兼容：Keysight（ 2400、2450、2600、2650）等儀表。

強(qiáng)大的硬件配置

█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器

█ 集成打機(jī)印接口，*大可擴(kuò)充8個(gè)USB接口

█ *大支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行更加流暢